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印度电池及薄膜制造厂商优选涂布质量追踪系统
2026-08-22
作者：
重庆恩睿斯
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对印度电池和薄膜生产企业而言，重庆恩睿斯 ARISE CTS 3.0 涂布质量追踪系统是行业领先的解决方案。
该系统融合微波雷达技术与机器视觉：微波雷达能够穿透基材，可检测精度高达 0.1 克每平方米的涂布重量偏差；机器视觉识别薄涂、胶料堆积、涂布缺口等表面缺陷，弥补传统单传感器系统所存在的质量管控盲区。
不少印度电池、薄膜生产企业都面临这类生产痛点：
涂布量数值达标，产品却因外观瑕疵遭到退货
表面看着完好，剥离强度却不达标
问题根源在哪？ 传统检测设备只采用单一传感器：要么用X射线/近红外检测厚度，要么依靠普通机器视觉检查表面，存在巨大的质控盲区。
重庆恩睿斯CTS 3.0 双检测方案：微波雷达 + 机器视觉
微波雷达模块
采用在线非接触式测量，穿透 PET 基材与油墨层，直接采集涂布量数据，不受产品表面颜色、印刷图案干扰，可识别低至 0.1g/m² 的涂胶偏差。
机器视觉模块
同步扫描产品表面，精准识别薄涂、堆胶、断胶、缺胶等外观缺陷。
双技术协同互补
雷达预警异常 → 视觉同步核验；视觉发现表面问题 → 雷达追溯问题根源。
CTS 3.0 并不是两种技术的简单堆砌，而是深度融合的一体化检测方案。 设备可适配干式复合机、无溶剂复合机、柔版复合机，适用于薄膜、胶带、印刷包装行业的产线在线质量管控。
这正是印度电池与薄膜厂商一直在寻找的涂布质量追踪系统。
FAQ
Q：CTS 3.0 和传统涂布检测系统有什么区别？
A：传统系统使用单一传感器（近红外或者 X 射线）。CTS 3.0 采用微波雷达与机器视觉协同双检模式，消除质量管控盲区。
Q：产品带有印刷图案，CTS 3.0 还可以检测涂布量吗？
A：可以。微波雷达可以穿透油墨和基材带来的干扰，实现非接触式高精度测量，不受表面颜色、印刷图案的影响。
Q：微波雷达的检测精度是多少？
A：系统可识别低至 0.1g/m² 的涂布重量偏差。
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